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通過掃描電鏡成像來看高效過濾器的內部結構

為了得到有關高效過濾器介質局部結構的真實信息，掃描電鏡成像（Scanning Electron Microscopy，SEM）以能對材料的序列斷面進行成像研究而得到廣泛應用。

掃描電鏡濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現(xiàn)代計算機控制技術。掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經過多級電磁透鏡匯集成細小的電子束。

在試樣表面進行掃描，激發(fā)出各種信息，通過對這些信息的接收、放大和顯示成像，以便對試樣表面進行分析。

入射電子與試樣相互作用產生不同的信息種類。這些信息的二維強度分布隨試樣表面的特征而變(這些特征有表面形貌、成分、晶體取向、電磁特性等) ，是將各種探測器收集到的信息按順序、成比率地轉換成視頻信號，再傳送到同步掃描的顯像管并調制其亮度，可以得到一個反應試樣表面狀況的掃描圖. 如果將探測器接收到的信號進行數字化處理即轉變成數字信號，就可以由計算機做進一步的處理和存儲。

對隨機結構的纖維高效過濾器的氣-固兩相流場進行了數值模擬，其中對顆粒相的處理采用了商業(yè)軟件Fluent中離散顆粒模型，隨機結構由掃描電鏡（SEM）技術來確定。

但是利用SEM技術對高效過濾器內部結構進行處理會存在兩方面缺陷：首先SEM方法本身的局限性使得該項技術用在高效高效過濾器領域并不合適，即：為了對內部結構進行掃描，高效過濾器介質必須被分割成許多塊，這樣必然會破壞高效過濾器內部結構，從而影響模型結構的真實性；

其次，SEM技術的分辨率也不能達到高效過濾器介質的測試要求，而且所處理樣本的尺寸也會受到限制。

來源：3gtt.cn

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